計算機論文:L形探針饋電的E形寬帶微帶天線仿真分析與設計
來源:未知 2020-07-16 09:27
隨著無線通信系統的廣泛應用,通信系統不斷向著更寬的頻段發展,為了改善微帶天線帶寬窄的缺點,設計了一款L形探針饋電的E形寬帶微帶天線。通過將矩形貼片設計為“E”形結構和
計算機論文:L形探針饋電的E形寬帶微帶天線仿真分析與設計
摘 要:隨著無線通信系統的廣泛應用,通信系統不斷向著更寬的頻段發展,為了改善微帶天線帶寬窄的缺點,設計了一款L形探針饋電的E形寬帶微帶天線。通過將矩形貼片設計為“E”形結構和運用L型探針耦合饋電代替傳統的微帶同軸饋電的方法,有效增加了微帶天線的阻抗帶寬。通過對E形縫隙長度和寬度,L形探針高度和長度參數進行優化,并根據優化結果設計的L形探針饋電的E形微帶天線,其-10dB阻抗帶寬可達33.3%,達到了展寬微帶天線帶寬的目的。
關鍵詞: E形微帶天線;L探針饋電;寬帶;無線通信系統
1 引言
微帶天線由于其剖面薄、體積小、重量輕、成本低、易于大批生產、易集成、具有多頻段多極化能力等優點被廣泛應用于無線通信系統中[1]。微帶天線的主要缺陷是帶寬窄,一般未采取擴頻措施時其帶寬僅有百分之幾。為了克服這個缺點,研究人員引入一些技術以增加帶寬。比如采用低介電常數的介質基板,輻射貼片的表面開槽[2-4]等方法。文獻[2]首次提出了使用E形微帶天線,作者指出這種結構不僅能夠保證天線設計的簡單性,同時可以獲得30%的帶寬。文獻[5-6]提出采用L形探針饋電的微帶天線。作者指出普通的探針饋電會引入電感,L形探針的引入將會引入電容效應,以抵消電感的影響,這也將增大天線的帶寬。
本文設計了一款L形探針饋電的E形微帶天線,并作了較全面的計算機仿真論文分析,著重研究了E形槽的長度、寬度和L形探針的高度、長度對天線回波損耗的影響,總結了相應的規律。
2 天線結構
本設計天線的結構如圖1所示,其主要是由E形輻射貼片、基板、L形探針構成。本設計中介質基板選用空氣基片,介電常數。空氣基板的厚度為。E形貼片的尺寸為,其中E形縫隙槽的長度為,E形縫隙槽的寬度為。E形縫隙槽的引入改變了傳統矩形貼片天線的電流分布,使其產生不同的電流路徑,從而構成兩個相臨近的諧振頻率,以實現天線寬頻帶的目的。L形探針的高度為,L形探針的長度為。L形探針的引入將會抵消探針直接饋電所引入的寄生電感,從而實現天線的寬頻帶特性。
圖1 L形探針饋電的E形微帶貼片天線結構圖
(a) 正視圖 (b) 側視圖 (c) 三維圖
3 天線參數研究
為了進一步研究天線的性能和天線的結構參數,用有限元仿真軟件HFSS對L 形探針饋電的E形微帶天線進行系統的仿真分析。為了得到最佳的帶寬特性,研究了如下參數對天線回波損耗的影響:縫隙槽的長度、縫隙槽的寬度、探針的高度、探針的論文發表長度。
3.1 縫隙槽長度對天線性能的影響
圖2顯示了縫隙槽長度變化時,的變化曲線。從圖中可以看出,增加時,諧振點的參數越小。這主要是由于增大時,表面電流路徑增加,因此諧振頻率處的越好。
圖2 縫隙槽長度變化時變化曲線
3.2 縫隙槽寬度對天線性能的影響
圖3 顯示了縫隙槽寬度對天線參數的影響,從圖中可以看出, 增加時,天線高頻段諧振點的參數變差。這是由于寬度的增加削弱了雙頻特性。而當減小時,其回波損耗特性越好。
圖3 縫隙槽寬度變化時變化曲線
3.3 探針高度對天線性能的影響
圖4給出了探針高度對天線參數的影響。從中可以看出取值較小時,其回波損耗特性較差,隨著取值的增加,其回波損耗特性越好。這主要是由于探針所引入的電容特性抵消了貼片上的電感效應。
圖4 探針高度變化時變化曲線
3.4 探針長度對天線性能的影響
圖5顯示了探針長度變化時的變化情況。可以看出,不同的取值,其參數的變化較大。取值過大或者過小時,其寬帶特性都較差。這主要也是由于探針所引入的電容效應減小所致。
圖5 探針長度變化時變化曲線
3.5 最優仿真結果
表1 根據上述參數分析確定了最優的參數。
表1 最優天線參數值 (單位:mm)
參數 |
參數值 |
50 |
|
1.2 |
|
70 |
|
49 |
|
19 |
|
15 |
|
12.8 |
|
feed point |
(18,0) |
圖6 給出了最優參數所確定的變化曲圖。從圖中可以看出,其頻率范圍為1.88GHz到 2.63GHz,帶寬為33.3%。
圖6 曲線圖
4 結束語
利用L形探針饋電和E形開槽技術,改善了微帶天線頻帶窄的缺點。利用HFSS對該天線的開槽的長度,寬度以及探針的高度,長度進行分析,得出各個參數對天線回波損耗的影響,驗證了L形探針饋電的E形微帶天線寬頻帶特性的有效性。這對設計適用于無線通信系統中的天線有一定的參考價值。
參 考 文 獻
[1] W.L.Stutzman, G.A.Thiele, Antenna Theory and Design, 2nd [M],New York:Wiley,1998.
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